is dat gedeelte der projectieve of metrische meetkunde, dat zich uitsluitend bezighoudt met de eigenschappen van de rechten en vlakken, die door één punt gaan en te zamen een stralenschoof en vlakkenschoof vormen, Metrisch opgevat valt deze meetkunde, behoudens de gebezigde terminologie, met de meetkunde van Riemann samen; projectief opgevat gaat zij door duale omvorming in de ruimte (zie dualiteit) in de projectieve planimetrie, dat is de meetkunde van het puntenveld en het stralenveld over.
Inloggen
Log hier in om direct te kunnen beginnen met schrijven.
Favorieten
Wil je dit begrip toevoegen aan je favorieten? Word dan snel vriend van Ensie en geniet van alle voordelen:
- Je eigen Ensie account
- Direct toegang tot alle zoekresultaten
- Volledige advertentievrije website
- Gratis boek cadeau als welkomstgeschenk