Scanningelektronenmicroscoop
(SEM), m. (-scopen), elektronenmicroscoop waarin het object met een zeer fijne elektronenbundel puntsgewijs wordt af ge tast (‘scannen’). Het principe van de scanningelektronenmicroscoop is reeds in 1938 voorgesteld; pas met behulp van de moderne elektronika is het systeem in de jaren zestig tot een onderzoeksinstrument ontwikkeld. In d...
