Een overtrektekening van structuren op een röntgenfoto van het profiel van het gezicht (laterale schedelröntgenfoto) met meetpunten voor het analyseren van de stand van de gebitselementen en de kaken. De tekening wordt gebruikt voor metingen bij een cefalometrische analyse. Tracings kunnen ook van voor-achterwaartse röntgenschedelfoto’s worden gemaakt.
Inloggen
Log hier in om direct te kunnen beginnen met schrijven.
Favorieten
Wil je dit begrip toevoegen aan je favorieten? Word dan snel vriend van Ensie en geniet van alle voordelen:
- Je eigen Ensie account
- Direct toegang tot alle zoekresultaten
- Volledige advertentievrije website
- Gratis boek cadeau als welkomstgeschenk