Axonometrie - 1° in de geologie, zie Kristallographie.
2° In de wiskunde. Bij deze projectiemethode in de beschrijvende meetkunde werkt men met 3 onderling loodrechte projectievlakken (snijpunt O) en nog een 4e vlak, het tafereel, dat het eigenlijke vlak van teekening is en de andere vlakken snijdt volgens de zijden van den scherphoekigen tafereeldriehoek X Y Z. De loodrechte projectie van een fig. op het tafereel is de axonometrische projectie der fig. De assen OX, OY en OZ worden axonometrisch geprojecteerd als de hoogtelijnen van △XYZ. Ook gebruikt men de projecties op één of meer der projectie-vlakken; deze projecties worden weer op het tafereel geprojecteerd. Zoo zijn in de fig. een rechte en een punt voorgesteld door hun axonometrische projecties l en P en door die, nl. l′ en P′, van hun projecties op vlak XOY.
De verhoudingen van OX, OY en OZ tot hun ware lengten zijn de 3 verkortingsverhoudingen. Men noemt de a. isometrisch, dimetrisch of trimetrisch, als er resp. 3 gelijke, 2 gelijke, die van de 3e verschillen, of 3 verschillende verkortingen zijn.
Het voorgaande betreft de orthogonalea. In de scheeve a. loopen de projecteerende lijnen ook parallel, maar staan niet loodrecht op het tafereel.
Lit.: zie Beschrijvende meetkunde. v. Kol.